磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明：
主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
標準試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
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名稱
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A1型試片 / A2型試片
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D型
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C型
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M1
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試片厚度 微米
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100±10
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50±5
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50±5
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50±5
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50±5
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試片長度 毫米
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20±1
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20±1
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10±0.5
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10±0.5
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20±1
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試片寬度 毫米
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20±1
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20±1
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10±0.5
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50±0.5
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20±1
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分割線間隔 毫米
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5±0.5
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圓形人工槽直徑 毫米
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高靈敏度
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10±0.5
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10±0.5
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5±0.3
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12
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中靈敏度
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9
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低靈敏度
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6
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十字人工槽長度 毫米
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高靈敏度
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6±0.3
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6±0.3
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3±0.2
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中靈敏度
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低靈敏度
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人工槽深度
微米
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高靈敏度
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15±2.0
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7±1.0
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7±1.0
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8±1.0
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7
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中靈敏度
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30±4.0
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15±2.0
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15±2.0
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15±2.0
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15
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低靈敏度
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60±8.0
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30±4.0
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30±4.0
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30±4.0
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30
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人工槽寬度 微米
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60—180
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磁粉探傷標準試片使用方法：
標準試片適用于連續(xù)磁化法，使用時應將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測時一般應選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位，由于尺寸關系可選擇適合大小的試片檢測；當用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時，可選用規(guī)定的試片檢測。
標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測后請防銹。
標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理；A2試片未經(jīng)過退火處理。
C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。
磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明：
